纳米离子探针实验室

本实验室隶属于中国科学院地球化学研究所关键矿产成矿与预测国家重点实验室,服务于固体地球科学领域微区原位元素、同位素组成及表面分布特征研究。利用聚焦高能一次离子束轰击样品表面,激发出被测物质的有用的二次离子,通过分析这些二次离子达到对样品进行极高空间分辨率的微区原位成分分析和表面分布特征,广泛应用于地球科学、生命科学及行星科学等领域。实验室目前可开展的测试项目有:

1. 硫化物的原位硫同位素分析

2. 锆石、磷灰石、石英等矿物的氧同位素及部分微量(如Ti,Al等)分析

3. 高空间分辨率面扫描分析



附件:

    Nano50L是法国Cameca公司的设计的最新一代纳米二次离子质谱仪,中国科学院矿床地球化学国家重点实验室于2020年引入的,并于2021年7月完成安装培训,11月对放开测试。

    二次离子质谱仪是利用高能离子束轰击样品产生二次离子并进行质谱测定的仪器,可以对固体或薄膜样品进行高精度的微区原位元素和同位素分析,可分析元素周期表中除稀有气体外的几乎全部元素具有强大的分析能力。纳米二次离子质谱仪是专门为空间分辨需要求开发的一种二次离质谱仪,以极高的空间分辨率为主要特点(最高能到五十纳米),能够对天然矿物、固体材料或生物组织的微区或微小颗粒,进行原位的同位素和微量元素分析,同时还能在几十微米范围内进行元素的面分布成像分析,被广泛应用于地质学、天体行星学、环境学、材料学、古生物学以及生命科学等领域。

    仪器室照片

    实验室大楼


    附件:

      实验室科研人员


      高剑峰,博士,研究员,本实验室负责人

      主要从事岩浆有关矿床精细成矿作用和微区分析技术研究,总体负责实验室管理和分析方法开发。

      办公室:矿床室419室

      Email: gaojianfeng@mail.gyig.ac.cn

      个人链接: http://sklodg.gyig.cas.cn/ryzc/zyyjry/201608/t20160829_4656078.htm

      实验室技术人员

      陈佑纬,博士,正高级工程师

      主要负责实验室测试方法的开发、日常运行及维护。

      办公室:纳米离子探针实验室102

      Email: chenyouwei@mail.gyig.ac.cn

      个人链接: http://sklodg.gyig.cas.cn/ryzc/zyyjry/201105/t20110503_3124562.html

      刘明君, 学士,实验员

      主要负责实验室的日常运行及维护。

      办公室:纳米离子探针实验室201

      Email: liumingjun@mail.gyig.ac.cn

      电话: 18383143591



      附件:

        实验预约流程

        1) 请务必认真阅读附件里的“NanoSIMS样品准备的注意事项”后,填写好“NanoSIMS实验室预约申请单”,发往nanosims@mail.gyig.ac.cn进行预约,实验室人员收到后会尽快反馈。

        2) 收到反馈后再填写“NanoSIMS分析测试申请表”,项目负责人签字后发往邮箱,并按照“NanoSIMS样品准备的注意事项”中的要求,准备样品,也可提前前往实验室帮助处理。

        3) 等待实验时间通知。由于NanoSIMS分析速度较慢,且一段时间内仅能处理同一种分析测试,无法准确预计分析时间,请耐心等待,实验室人员会在实验前一周联系协商。

        4) 尽量提前1-3天将样品邮寄或送至实验室,提前将样品放入仪器抽真空,节约分析时间。 

        5) 携带有负责人签字的原版“NanoSIMS分析测试申请表”至实验室,上机测试。

        6) 实验完成后,请将样品带走,实验室人员会在一至两周内处理好数据,发往指定邮箱。

        NanoSIMS样品准备的注意事项.docx

        NanoSIMS实验室预约申请单.docx

        NanoSIMS样品准备的注意事项.docx

        实验室收费标准

        所有分析测试按时间收费,收费标准为2500元/小时(或20000元/天),从开始测试起,至分析测试完成结束时止。



        附件:

          NanoSIMS同位素测试注意事项

          1. 分析点应位于样品表面光滑处,同时至少离矿物边缘或已分析的深坑至少10um以上。

          2. 若同位素分析中加载了电子枪,切换SIMS-CCD前,须将电子枪关掉,而在分析时(SIMS模式下),须确认加已载上电子枪,否则信号量过低。

          3. 分析过程中,请关注分析参数的变化,一般来说二次离子的居中次数应该不超过10次(HMR,EOS的自动居中),若超过20次,则说明二次束流存在的问题。一般而言,可能的原因是电子枪未开,未打到样品上,或者样品的高度差较大。要及时Abort,排除原因,否则将影响下面的分析。排除上述原因,仍存在问题,请联系实验室人员。

          4. NanoSIMS的样品坐标系统通常具有10um左右的偏差,所以分析样品比较小时,需利用TIC找样品,使用TIC时须将分析束流切换至小束流,否则TIC会过饱和而无图像显示。(若发生时,先将束流调下,再将TIC面板上的红色×关掉,后可恢复使用)

          5. 所有点分析完后,须切换至CCD逐一检查所有分析的点是否位于合适想分析位置(参照1),若有异常点时应及时重新分析。

          6. 分析完成时,可联系实验室人员关闭仪器,若分析结束时处于晚上9点以后,仅需将面板上的HV关掉,关灯关门即可。

          NanoSIMS样品准备的注意事项.docx

          NanoSIMS实验室预约申请单.docx

          NanoSIMS分析测试申请表.doc



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