本实验室拥有X射线衍射仪（XRD）和扫描探针显微镜（SPM）各一台。粉晶X射线衍射仪主要用于多晶样品的物相分析以及纳米材料颗粒尺寸分析。扫描探针显微镜主要用于固体样品的高分辨成像以及表面微区物理性能测试。
实验室目前可开展的测试项目包括：
1. 粉晶X射线衍射仪
（1）常规X射线衍射（XRD）测试，包括扫谱、定性、半定量
（2）小角X射线散射（SAXS）
2. 扫描探针显微镜
（1）表面形貌分析（接触、轻敲及智能模式）
（2）普通电、磁学测试（EFM，SEPM，MFM等）
（3）特殊电学测试（SCM，CAFM，ECAFM等）
（4）定量纳米力学性能测试（杨氏模量Peak force QNM）
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1. 粉晶X射线衍射仪（生产商：荷兰PANalytical；型号：Empyream）主要性能参数包括：
高压发生器最大输出功率：4 kW
高压发生器最大管压/管流：60 kV / 60 mA
金属陶瓷X光管（Cu靶）：最大功率2.2 kW；
X光管焦斑：12×0.4 mm长细焦斑及点焦斑
测角仪扫描方式：θ/θ
测角仪可控最小步进： 0.0001度，可以停止在任何规定角度；
PIXcel3D 全能矩阵探测器， 最大计数率1×1010 cps；可进行零维、一维和二维扫描；
探测器保证分辨率：0.028°（2θ）（NIST660a样品）；
2. 扫描探针显微镜（生产商：德国Bruker；型号：Multimode 8）主要性能参数包括：
测量模式：接触模式原子力显微镜（Contact mode AFM）、轻敲模式原子力显微镜（Tapping mode AFM）、峰值力轻敲模式原子力显微镜（Peak force tapping mode AFM）、横向力/摩擦力显微镜（LFM）、磁力显微镜（MFM）、静电力显微镜（EFM）、表面电势测量（SEPM）、压电响应模式、力曲线/力谱测量、扫描隧道显微镜（STM）、液体环境测试（Contact mode , Tapping mode, Peak force tapping）、纳米压痕测试（Nanoindentation）、定量纳米力学性能测试（Peak force QNM）、扫描电容显微镜（SCM）、电化学原子力显微镜（ECAFM）、电化学扫描隧道显微镜（ECSTM）
扫描范围：125μm x 125μm x 5μm 和10μm x 10μm x 2.5μm
噪声水平：≤0.3 埃（垂直方向）
成像温度：−35°C ~ 250°C
可控气氛系统：密闭腔体，可通入各种气氛
分辨率：可持续稳定得到原子级分辨率（以对云母成像表征）
光学辅助观察系统：450倍放大，分辨率1.6 μm，带彩色CCD摄像头
防震台：防震频率0.5 HZ
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实验室人员
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覃宗华，博士，高级工程师 主要从事XRD和SPM的分析测试和仪器维护。 实验室：3号楼212室 办公室：3号楼426室 联系电话：15285044606 Email：qinzonghua@mail.gyig.ac.cn |
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实验室预约流程
1、微信扫描二维码进行网上预约；
2、下载分析测试申请表，填写联系人姓名、电话和项目负责人签字，电子邮件发送申请表扫描件到负责人对应的邮箱，联系实验室技术人员安排实验，开展实验当天请提交纸质版申请表。
实验室收费标准
1. X射线衍射
扫谱：150元/件
定性分析：200元/件
半定量分析：300元/件
小角散射：500元/件
2. 扫描探针显微镜
表面形貌分析：400元/小时
普通电、磁学测试：400元/小时
特殊电学测试：800元/小时
定量纳米力学性能测试：800元/小时
液体环境/可控气氛系统/高低温下表面形貌分析：800元/小时
样品处理：200元/件
数据处理：100元/小时
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1. 粉晶X射线衍射测试样品要求：粉末样品质量不少于200 mg，粒度应在45微米左右，即应过325目筛；块体和薄片样品长和宽应在3 cm × 3 cm以内，上下表面至少一面平整，厚度不超过3 mm。
2. 扫描探针显微镜测试样品要求：样品厚度小于8毫米，直径小于15毫米，表面起伏小于5微米（扫描范围小于125μm x 125μm）或小于2.5微米（扫描范围小于10μm x 10μm）。
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